HJAS2875B低频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统
低频绝缘材料介电常数介质损耗测试系统由=测试装置（夹具）、介电常数测试主机、组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。
主要参数：
工作频率范围：20Hz～1MHz精度：±0.01%
电容测量范围：0.00001pF～9.99999F六位数显
电容测量基本误差：±0.05%
损耗因素D值范围：0.00001～9.99999六位数显
2022年2月14日
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