HJBS916介质损耗测试装置

介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。介质损耗测试装置采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。
技术参数：
平板电容器： 极片尺寸Φ50mm/Φ38mm 可选, 极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距：25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
测微杆分辨率：0.001mm